Système de mesure pour semi-conducteur - Détection des défauts d'aspect - Techni-Contact

Système de mesure pour semi-conducteur

Détection fiable des défauts d'aspect

Code fiche produit :5237105
Prix sur demande
4.3/5
Qualité de service garantie



Dans le développement et la production d'installations de contrôle pour l'industrie des semi-conducteurs, il est nécessaire de faire preuve de compétences particulières. Dans aucun autre cas que dans celui de l'assurance qualité...

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Description
Dans le développement et la production d'installations de contrôle pour l'industrie des semi-conducteurs, il est nécessaire de faire preuve de compétences particulières. Dans aucun autre cas que dans celui de l'assurance qualité des semi-conducteurs, le degré de précision et de stabilité des mesures effectuées est aussi élevé.

Caractéristiques :

- Haute précision.
- Systèmes de mesure innovants.
- Nouvelles solutions, jamais réalisées à ce jour.
- Détection fiable des défauts d'aspect.





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